瞬態(tài)平面熱源法導熱系數(shù)測試儀 型號：DRE-2C

DRE-2C導熱系數(shù)測定儀(瞬態(tài)平面熱源法)
DRE-2C導熱系數(shù)測試儀采用瞬態(tài)平面熱源法，主要測量固體、粉末、涂層、薄膜、各向異性材料等的導熱系數(shù)。本儀器基于TPS瞬態(tài)平面熱源技術(shù)，用Hot Disk作為探頭的導熱系數(shù)測定儀。
DRE-2C導熱系數(shù)測試儀Hot Disk法的優(yōu)點有：
(1)直接測量熱傳播，可以節(jié)約大量的時間；
(2)不會和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響；
(3)無須特別的樣品制備，只需相對平整的樣品表面。 
 DRE-2C導熱系數(shù)測試儀主要技術(shù)指標：
1、導熱系數(shù)測定范圍：0.01—100W/mk
2、測量時間：1-600秒
3、準確度：優(yōu)于5％
4、溫度范圍：標準測量：室溫，(可根據(jù)客戶要求選配各種溫度段的測試溫度，費用另計：如-20℃～120℃)
5、樣本尺寸：大于15mm高，大于直徑45mm相對平整的樣品表面